Показаны результаты 1 - 1 из 1
| Год выпуска | Название | Автор(ы) | Тип | Просмотров | Загружено |
|---|---|---|---|---|---|
| 2022 | Improvement Analysis of Leakage Currents with Stacked High-k/Metal Gate in 10 nm Strained Channel HOI FinFET | Payal, K.; Swagat, N.; Priyanka, S.; Rudra, S.D. | Article | 739747565 | 221630148 |